|
ВСТУП
|
6
|
|
1 ОСНОВИ ФІЗИКИ РЕНТГЕНІВСЬКИХ ПРОМЕНІВ
|
7
|
|
1.1 Природа і властивості рентгенівських променів
|
7
|
|
1.2 Умови дифракції Вульфа-Брега
|
8
|
|
1.3 Спектральний склад рентгенівського випромінювання
|
10
|
|
1.4 Закон Мозлі
|
11
|
|
2 ТЕОРІЯ ДИФРАКЦІЇ НА ДОСКОНАЛИХ СТРУКТУРАХ. ОСНОВНІ РІВНЯННЯ ДИФРАКЦІЇ РЕНТГЕНІВСЬКИХ ПРОМЕНІВ
|
12
|
|
2.1 Розсіювання рентгенівського випромінювання атомним рядом. Рівняння дифракції Лауе
|
12
|
|
2.2 Розсіювання площиною
|
14
|
|
2.3 Розсіювання променів кристалічною граткою
|
14
|
|
2.4 Три методи, що використовуються у рентгеноструктурному аналізі
|
15
|
|
2.5 Обернена гратка у тривимірному просторі
|
17
|
|
2.6 Рівняння Евальда в термінах оберненої гратки. Принцип побудови сфери Евальда
|
18
|
|
2.7 Метод полікристала. Обернена гратка полікристала
|
21
|
|
2.8 Побудова Евальда для полікристала
|
22
|
|
2.9 Розділення a і b випромінювання
|
23
|
|
2.10 Введення поправок на поглинання у зразку
|
23
|
|
3 ІНТЕНСИВНІСТЬ ДИФРАКЦІЙНИХ МАКСИМУМІВ
|
25
|
|
3.1 Вимірювання інтенсивності дифракційних ліній
|
25
|
|
3.2 Взаємодія рентгенівського випромінювання з речовиною. Закон послаблення
|
25
|
|
3.3 Розсіяння рентгенівського випромінювання
|
27
|
|
3.4 Атомне поглинання
|
28
|
|
3.5 Методи монохроматизації
|
30
|
|
3.6 Фактори, що впливають на інтенсивність дифракційних ліній
|
31
|
|
4 МЕТОДИ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛІЗУ
|
36
|
|
4.1 Встановлення речовини
|
36
|
|
4.2 Визначення типу гратки та параметра елементарної комірки
|
36
|
|
4.3 Прецізійне (точне) вимірювання параметра елементарної комірки
|
39
|
|
4.4. Вивчення діаграми стану рентгеноструктурним методом
|
42
|
|
4.5 Рентгеноструктурні дослідження сплавів, що належать до систем із різним типом діаграм стану
|
43
|
|
4.6 Визначення лінії обмеженої розчинності (сольвусу)
|
46
|
|
4.7 Визначення типу твердого розчину
|
48
|
|
4.8 Фазовий аналіз: кількісний і якісний
|
49
|
|
4.9 Метод безеталонного визначення кількості аустеніту залишкового в сталі після гартування
|
51
|
|
4.10 Проведення кількісного аналізу з використанням еталону (метод підмішування еталону)
|
52
|
|
4.11 Метод гомологічних (подібних) пар
|
53
|
|
4.12 Дослідження структури сталей після термічної обробки рентгеноструктурним методом.
|
54
|
|
4.13 Вивчення напружень рентгеноструктурним методом
|
56
|
|
4.14 Визначення макронапружень
|
56
|
|
4.15 Визначення мікронапружень
|
57
|
|
4.16 Дослідження процесів, які відбуваються при нагріванні холоднодеформованого металу
|
60
|
|
4.17 Визначення енергії активації первинної рекристалізації
|
63
|
|
4.18 Визначення розміру зерна
|
64
|
|
4.19 Загальна характеристика рентгеноструктурного аналізу
|
64
|
|
5 РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНІЙ АНАЛІЗ І РАСТРОВА ЕЛЕКТРОННА МІКРОСКОПІЯ
|
65
|
|
5.1 Основи рентгеноспектрального методу
|
65
|
|
5.2 Основні характеристики спектрів, що отримуються від зразка в рентгеноспектральному методі
|
65
|
|
5.3 Основні методи рентгеноспектрального аналізу
|
66
|
|
5.4 Блок – схема растрового електронного мікроскопу
|
67
|
|
5.5 Види сигналів при взаємодії зонду із зразком
|
69
|
|
5.6 Устрій спектрометра
|
71
|
|
5.7 Устрій детектора електронів
|
73
|
|
5.8 Схема взаємодії відбитих електронів (пружно розсіяних) від зразка
|
74
|
|
5.9 Формування і реєстрація зображення в РЕМ
|
74
|
|
5.10 Формування зображення і вивчення розподілу хімічних елементів, структурних складових в рентгено - спектральному аналізі
|
75
|
|
5.11 Формування зображення структури
|
77
|
|
5.12 Фрактографічний аналіз зламів
|
78
|
|
6 ЕЛЕКТРОННО-ОПТИЧНІ МЕТОДИ ДОСЛІДЖЕННЯ СТРУКТУРИ МЕТАЛІВ
|
80
|
|
6.1 Порівняльна характеристика дифракції електронів та рентгенівського випромінювання
|
82
|
|
6.2 Розрахунок і аналіз електронограм
|
83
|
|
6.3 Формування зображення структури
|
86
|
|
Література
|
88
|
